直流电阻及有载分接开关测试仪

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直流电阻及有载分接开关测试仪绥化
绥化直流电阻测试仪介绍 仪器面板见图一图一1、仪器开关：一：选择交流工作方式并开机；○：关机；二：选择直流供电方式并开机。2、交流电源接口：选择交流供电方式时，需接入AC220V，50HZ电源。3、接地柱：仪器接地，保护设备及人身安全。4、测试端子：I+、 I- ：电流输出端子，I+为输出电流正，I-为输出电流负；V+、V- ：电压输入端子，V+为电压线正，V-为电压线负。5、电池电量显示：显示仪器内部电池剩余电量。6、充电接口：仪器内置电池充电接口（请使用仪器配套的专用充电器）。7、打印机：打印输出测试数据。8、数据接口：USB （标配）：可用U盘导出测试数据。RS232（选配）：用于数据通讯。9、按键：执行仪器各种操作：复位： 按下此按键本机处于初始状态。循环： 按此键光标在主菜单循环滚动。选择： 本机复位后，按此键进行电流预置；测试完成后，长按此键可打印输出测试数据。确认： 输出电流选择完毕后按下此键，由微机控制实现全部测试过程；测试完成后，再次按下该键，进行重新测试，以便得到更加稳定准确的测试数据。10、显示屏:128×64点阵液晶显示屏，显示菜单、电流和电阻值等。六、测试与操作方法1、接线A： 单相测量法，仪器接线见下图：将红色测试线的插片接到I+上， 插杆接到V+上，测试钳接到试品一端，将黑色测试线的插片接到I-上，插杆接到V-上，测试钳接到试品另一端。图二B、助磁法接线见图三～五（适用于Y（N）-d-11联接组别）。图三图四图五对于大容量的变压器的低压侧测量时，如果在既有的情况下，直流电阻测试仪的 电流比较小，或者为了加快测量速度，可选择助磁法测量。

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绥化直流电阻测试仪单相测试在“直阻参数设置”屏下“测试相别”项中选择单相相别相后，可进行所选相的单相测量。例，选择测量“AO”相（见图四、图五）。图四图五按“确认”键，锁定屏幕数据，可进行打印、存储等数据操作（见图六）。图六屏幕中间显示测量结果，底部显示可操作菜单：?解锁：解除数据锁定，测试数据实时刷新。?打印：将测试结果进行打印。?存储：将测试结果存储到本机或存储到优盘。“左右”键选择菜单项，“确认”键执行当前选项。此时按“取消”键，接触数据锁定，测试数据实时刷新，再次按“取消”键仪器将停止测试，并开始放电（见图七），放电完成后，仪器自动返回直阻参数设置屏。图七放电完成后，仪器自动返回直阻参数设置屏。5.3.1.3三相Yn测试在“直阻参数设置”屏下“测试相别”项中选择“三相同测Yn”测试相后，可进行Yn型绕组的三相测量，在进行三相测量前需选择是否启用中性点校正功能（见图八）。图八如选择启用中性点校正功能，仪器将先测量单相AO数据暂存，然后再进行三相测量， 使用暂存的AO数据进行中性点校正，使三相测量数据更接近单相法测量的数据；如不启用该功能，仪器将直接进行三相测量，速度更快，只是数据与单相测量数据差异稍大一些，但是对于三相不平衡率影响微乎其微。本说明书只以带中性点校正功能的测试方法加以说明，不带中性点校正功能只需跳过单相测量步骤即可。测量过程如下：图九三相测量将先测量出单相AO阻值，如选择“自动模式”待阻值稳定后装置将自动切换到三相充电计算三相电阻值；如选择“手动模式”，则需人为判断阻值稳定，手动确认。单相AO阻值测试完成后，仪器自动单相放电，放电完成后自动进行三相充电并计算三相电阻值（见图十、十一）。图十20℃测量值 75℃折算值不平衡率图十一在此界面，按“确认”键，锁定屏幕数据，可进行打印、存储等数据操作（见图十二）； 图十二在“实时测量”状态可对变压器的有载分接开关进行调档操作，仪器将自动跟踪测试调档后的电阻值，上、下键可修改分接位。?解锁：解除数据锁定，测试数据实时刷新。?打印：将测试结果进行打印。?存储：将测试结果存储到本机或存储到优盘。“左右”键选择菜单项，“确认”键执行当前选项。按此时按“取消”键，接触数据锁定，测试数据实时刷新，再次按“取消”键仪器将停止测试，放电完成后，仪器自动返回直阻参数设置屏。

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绥化直流电阻测试仪单相测试在“直阻参数设置”屏下“测试相别”项中选择单相相别相后，可进行所选相的单相测量。例，选择测量“AO”相（见图四、图五）。图四图五按“确认”键，锁定屏幕数据，可进行打印、存储等数据操作（见图六）。图六屏幕中间显示测量结果，底部显示可操作菜单：?解锁：解除数据锁定，测试数据实时刷新。?打印：将测试结果进行打印。?存储：将测试结果存储到本机或存储到优盘。“左右”键选择菜单项，“确认”键执行当前选项。此时按“取消”键，接触数据锁定，测试数据实时刷新，再次按“取消”键仪器将停止测试，并开始放电（见图七），放电完成后，仪器自动返回直阻参数设置屏。图七放电完成后，仪器自动返回直阻参数设置屏。5.3.1.3三相Yn测试在“直阻参数设置”屏下“测试相别”项中选择“三相同测Yn”测试相后，可进行Yn型绕组的三相测量，在进行三相测量前需选择是否启用中性点校正功能（见图八）。图八如选择启用中性点校正功能，仪器将先测量单相AO数据暂存，然后再进行三相测量， 使用暂存的AO数据进行中性点校正，使三相测量数据更接近单相法测量的数据；如不启用该功能，仪器将直接进行三相测量，速度更快，只是数据与单相测量数据差异稍大一些，但是对于三相不平衡率影响微乎其微。本说明书只以带中性点校正功能的测试方法加以说明，不带中性点校正功能只需跳过单相测量步骤即可。测量过程如下：图九三相测量将先测量出单相AO阻值，如选择“自动模式”待阻值稳定后装置将自动切换到三相充电计算三相电阻值；如选择“手动模式”，则需人为判断阻值稳定，手动确认。单相AO阻值测试完成后，仪器自动单相放电，放电完成后自动进行三相充电并计算三相电阻值（见图十、十一）。图十20℃测量值 75℃折算值不平衡率图十一在此界面，按“确认”键，锁定屏幕数据，可进行打印、存储等数据操作（见图十二）； 图十二在“实时测量”状态可对变压器的有载分接开关进行调档操作，仪器将自动跟踪测试调档后的电阻值，上、下键可修改分接位。?解锁：解除数据锁定，测试数据实时刷新。?打印：将测试结果进行打印。?存储：将测试结果存储到本机或存储到优盘。“左右”键选择菜单项，“确认”键执行当前选项。按此时按“取消”键，接触数据锁定，测试数据实时刷新，再次按“取消”键仪器将停止测试，放电完成后，仪器自动返回直阻参数设置屏。

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绥化直流电阻测试仪按“左右”键选择“缩放”或“标尺”选项，按“上下”键修改所选参数，其中“缩放”指波形的缩放比例，如1:1指波形按1:1进行显示，如1:2指波形被缩小2倍进行显示，依此类推（仪器在“波形显示”屏时总是自动缩放到仪器液晶屏全屏显示的比例），用户可根据需要调节缩放比例，其中波形越被放大，波形分析时光标移动分辨率越高，分析结果精度越高，波形越被缩小，波形分析时光标移动分辨率越低，但波形压缩成整屏显示时，显示更直观；“标尺”t1指左面的竖线光标，t2指右面的竖线光标，当相应标尺被选择后显示实线，未被选择时显示虚线，转动“飞梭”来移动所选的标尺，当需要光标慢速移动时缓慢转动“飞梭”，当需要光标快速移动时可快速转动“飞梭”，两标尺在移动过程中不能相互穿越只能重合，任何时候按下“飞梭”，波形恢复到初始显示状态。上面的电阻值为标尺之间的平均电阻值（两标尺重合后为标尺所在位置的瞬时电阻值），左下面的ΔT为两标尺之间的时间，下面的电阻值为t2标尺所在位置所指示的瞬时电阻值。仪器可打印出两标尺间的平均电阻值（在“分析数据打印”屏称为过渡电阻值），对于A相波形，调整两标尺，使之位于在波形中电流通过限流电阻的那一段（通常为 点位置的平滑处），这时上方显示的电阻值即为两标尺之间的平均电阻值，这时按“确认”键进入“分析数据打印”项打印A相的过渡电阻值， B相、C相和A相的测量、打印设置原理相同。仪器可打印出t2标尺所在位置的瞬时电阻值，基本原则是：要看哪一点的电阻值，就把t2标尺移动到那一点，如想测量、打印A相瞬时电阻值，可将t2标尺移动到想要测量的位置，这时下方显示的电阻值即为t2标尺所在位置的瞬时电阻值，这时按“确认”键进入“分析数据打印”项打印A相的瞬时电阻值，B相、C相和A相的测量、打印原理相同。注意：当波形有抖动时，应尽可能找比较平滑段。波形分析时还应注意，M型有一些是并联双断口结构，这时测试的电阻值是铭牌标定值的1/2。如用1A档测量时，当波形出现过零点且持续2ms以上时，可换成0.5A档测。如果用0.5A档测，阻值也超过仪器测量范围，很可能存在接触不良或有松动处，此时应慎重对待多测几次。 调节两标尺的位置，将t1标尺移至A相波形的起点（即波形开始下降的点），t2标尺移至A相波形的终点（即波形 向上升起的拐点），此时显示屏左下方的Δt数值即为A相波形的过渡时间，此时按“确认”键进入“分析数据打印”项打印A相的过渡时间，同理，根据B、C相波形的起点、终点调整两标尺的位置，再分别打印出B、C相波形的过渡时间。确定过渡时间的基本原则是：起始时间从曲线向下的拐点开始；结束时间从曲线 一个向上的拐点终止

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绥化直流电阻测试仪带绕组测试按6.1要求接好测试线，仪器开机，进行完参数设置后进入“准备触发”屏，此时，中间三组数据在逐渐变化，因为仪器对绕组和开关有一个充电的过程，所以回路电阻值会从大到小变化，待三相数值都稳定后，再按“确认”键进入“等待触发”屏，此时可手动或电动操作有载分接开关，有载分接开关动作完毕后，仪器自动进入“波形显示”屏，见图六。在“波形显示”屏，上面显示的是仪器自动计算出的过渡电阻值，可供用户参考，中间从上到下三个区域分别显示的是A、B、C三相的动作波形，波形的右下角显示的是仪器自动计算的过渡时间，可供用户参考。下部分显示的是操作菜单，此时可以按“左右”键选择“继续测量”、“波形分析”、“波形存储”、“波形打印”项，按“确认”键进入相应选项，按“取消”键返回“有载测试参数设置”屏。在每条曲线下面有一条水平直线是零电流线，当切换过程中有断点时，曲线将与零电流线重合。对于M型和T型开关，其切换开关总是在单双之间作往返动作，所以测一次单到双（如1→2），再测一次双到单（如2→3）即可。对于V型开关，它是复合式的，其动触头与每一分接位的静触头的切换都不重复，上行和下行也有区别，状态也就略有差异，因此要从1分接位开始连续测完所有分接位（1→n），再反向测完所有分接位（n→1）。图六5.4.2.1.1 继续测量选择“继续测量”后，仪器进入“准备触发”屏，继续进行测试。5.4.2.1.2 波形分析选择“波形分析”后，进入“波形分析”屏，见图七。在此屏，用户可自行分析波形的过渡时间、过渡电阻值、瞬时电阻值、三相不同期性等参数。

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绥化直流电阻测试仪即时数据的“测试电阻”显示所测阻值，“折算电阻”显示试品在预设折算温度下的阻值（具体设置方法请参见本说明书：设置折算系数）。此页面可进行以下操作：①．打印测试数据：触摸 “打印”图标，或按【F8】打印当前数据。②．存储测试数据至本机：触摸“存仪器”图标，或按【F1】，将测试数据存至仪器，可随时调阅。③．存储测试数据至U盘：将U盘插入仪器面板的U盘接口后，触摸“存优盘”图标，或按【F9】，把测试数据存至U盘，可在计算机上查阅。④．上调分接：触摸“上调”图标，或按【F2】键，分接数增加1。⑤．下调分接：触摸“下调”图标，或按【F3】键，分接数减小1。⑥．重测：触摸“重测”图标，或按【F7】键，立即刷新测试数据。⑦．停止测试：触摸“中止”图标，或按【F6】键，或按【复位】键停止测试。停止测试后，仪器会先将试品放电，如下图：请耐心等待放电结束（放电声响结束后，稍等几秒钟），仪器返回主页面，再进行后续操作。3、设置折算系数触屏：在主界面直接触摸“测试设置”图标进入设置界面。按键：按【←】或【→】键选中“测试设置”图标，按【确定】键进入。在此页面可以修改当前绕组温度、换算温度、线圈材质、连接方式，触屏和按键的操作方法与其他界面操作方法相同，不再赘述。绕组温度：当前测试时的绕组温度（根据实际情况设置）。换算温度：将测试所得的阻值折算成此温度下的阻值（根据需要设置）。材料选择：当前所测试品的材质（根据实际情况设置）。修改完后确定，触摸“返回”按钮或按F6返回主页面，如果本次测试没有对测试参数进行设置，将会默认与上一次测试参数相同。4、数据查询触屏：在主页面直接触摸“数据查询”图标进入查询界面。按键：按【←】或【→】键选中“数据查询”图标，按【确定】键进入。此页面可进行以下操作：①．打印数据：触摸的“打印”图标，或按【F8】，打印当前数据。②．导出全部数据至U盘：将U盘插入仪器面板的U盘接口后，触摸“全导”图标，或按【F9】，将全部已存储数据一次转存至U盘。③．导出单条数据至U盘：将U盘插入仪器面板的U盘接口后，触摸“单导”图标或按【F1】键，把当前查询数据转存至U盘。④．查询上一条数据：按【F2】键或触摸“上翻”图标，屏幕刷新显示上一条数据。⑤．查询下一条数据：触摸“下翻”图标，或按【F3】键，显示下一条数据。⑥．删除数据：触摸“删除”图标，或按【F7】，删除当前数据。⑦．返回主页面：触摸“返回”图标，或按【F6】，可返回主页面。

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绥化直流电阻测试仪仪器参数设置（时钟、亮度、清除数据）触屏：在主页面直接触摸“系统设置”图标，进入系统设置界面。按键：按【←】或【→】选中“系统设置”图标，按【确定】键进入。在此页面可进行以下操作：①．修改仪器时钟：触屏：触摸“时钟设置”图标进入时钟设置界面。按键：按【←】或【→】键选中“时钟设置”图标，按【确定】进入。通过触屏或按键修改时间，修改完后确认保存新时间，或返回放弃修改。②．调节屏幕亮度：触屏：触摸“屏幕亮度”图标进入亮度调节界面。按键：按【←】或【→】键选中“屏幕亮度”图标，按【确定】键进入。此时可按“+”号或“-”号，或选中“调整亮度”图标后按【↑】或【↓】键调整屏幕亮暗程度。③．清除全部已存数据：触屏：触摸“擦除数据”图标，进入数据清除界面。按键：按【←】或【→】键选中“擦除数据”图标，按【确定】键进入。触摸“擦除数据”图标，或选中【擦除数据】图标后按【确认】键，清除仪器全部已存测试数据。注意：数据清除后无法恢复，请谨慎操作。七、电池充电说明当仪器长时间不用或使用一段时间后，都会造成电量不足，需要重新对仪器电池进行充电。充电时插上配套充电器，此时充电器上指示灯变为红灯，开始对仪器电池进行充电。当充电指示灯变为绿灯时说明电池充电完成，这时可以拔掉充电器。注意：由于锂电池特性，在严重亏电时仍不充电，会造成电池不可逆的损坏，请使用者及时充电，如果由于严重亏电造成的电池损坏，属于人为原因，本公司不负责免费更换。对已过保修期或非产品质量问题造成的仪器故障，

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